溫度沖擊試驗(yàn)箱方案概述

 

1 溫度沖擊試驗(yàn)箱概述

 

1.1 用途

品達(dá)MAX-TS溫度沖擊試驗(yàn)箱用于儀器儀表、電工電子及其它產(chǎn)品、材料、零部件、軍用設(shè)備在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性。

1.2 符合制造標(biāo)準(zhǔn)

GB 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

1.3 滿足試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2001  電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.2-2001  電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) B:高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.22-2002  電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) N:溫度變化 試驗(yàn) Na

IEC 68-2-14：1984 試驗(yàn)方法 N ：溫度變化

GJB 150.3-1986    高溫試驗(yàn)

GJB 150.4-1986    低溫試驗(yàn)

GJB 150.5-1986    溫度沖擊試驗(yàn)

1.4 設(shè)備測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

1.5 測(cè)試環(huán)境條件：

環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%

試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下測(cè)試

如有特殊條件，以后述為準(zhǔn)；

1.6 試樣限制

禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

禁止腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

禁止生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

禁止強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

 

2 溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

 

標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積(L)：80L～1000L，大尺寸容積可以非標(biāo)承制；

結(jié)構(gòu)形式：兩箱式、三箱式；

高溫室溫度范圍：室溫+20℃～+150℃；

低溫室溫度范圍：室溫～－70℃；

溫度沖擊范圍：-55℃～150℃；

低溫室降溫時(shí)間：+20℃至-70℃時(shí)間≤80min；

高溫室升溫時(shí)間：+20℃至+150℃時(shí)間≤30min；

溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間：

暴露時(shí)間30min，時(shí)間可設(shè)置；

恢復(fù)時(shí)間≤5min；

溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃；

溫度偏差：≤±2℃；

 

3 溫度沖擊試驗(yàn)箱空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng)

 

3.1 空氣調(diào)節(jié)方式

強(qiáng)制通風(fēng)內(nèi)循環(huán)，平衡調(diào)溫法。該方法在制冷系統(tǒng)連續(xù)工作的情況下，中央控制系統(tǒng)根據(jù)所采集到的箱內(nèi)溫度信號(hào)與設(shè)定值（目標(biāo)值）進(jìn)行比較，得出的偏差信號(hào)經(jīng) PID 運(yùn)算，輸出調(diào)節(jié)信號(hào)，自動(dòng)控制加熱器的輸出功率，終使箱內(nèi)的溫度達(dá)到一種動(dòng)態(tài)平衡，高溫室和低溫室獨(dú)立控制。

3.2 空氣循環(huán)裝置

不銹鋼軸流風(fēng)機(jī)，攪拌工作室內(nèi)空氣使其在工作室和空氣調(diào)節(jié)單元（風(fēng)道）之間循環(huán)流動(dòng)，達(dá)到熱交換和均勻溫場(chǎng)等作用；

3.3 空氣加熱方式

鎳鉻合金電加熱器；

3.4 空氣冷卻方式

翅片管式換熱器；